SUPERFICIES y VACIO Vol. 15, 2002
Table of Contents
Sergio
López-López, J. Mauricio López-Romero, Iván Domínguez-López, Eduardo De
Carlos, Hagman Ramírez-Reyes
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1 |
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Estudio de
películas delgadas de Cd1-x
Znx Te, para 0<x<1, utilizando la técnica CSVT-FE M. Zapata-Torres, O. Calzadilla Amaya y J. L. Peña, R. Castro-Rodríguez,, M. Meléndez-Lira |
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9 |
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Surface transition metal magnetism A. Rubio-Ponce, A. E. García, R. Baquero |
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Preparation and optical absorption
of colloidal dispersion of Au/Cu nanoparticles J. F. Sánchez-Ramírez, C. Vázquez-López,
U. Pal
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Transition from CdS to
CdCO3 by deposition temperature influence O.
Portillo-Moreno, H. Lima-Lima, R. Lozada-Morales, R. Palomino-Merino, A. B. Soto, O. Zelaya-Angel |
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Raman and Hall characterization of
AlGaAs epilayers grown by MOCVD using elemental arsenic J.
Díaz-Reyes, R. Castillo-Ojeda, M. Galván-Arellano and R. Peña-Sierra |
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Efecto de
los contactos en películas delgadas de GeSbTe E.
Morales-Sánchez1, E.F. Prokhorov, J. González-Hernández, A. Mendoza-Galván |
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Análisis
AES y XPS de películas delgadas de oxidos de CdTe crecidas por sputtering en
Ar-N2O Bartolo-Pérez P., Jhonny Ceh,
Peña J.L., Zapata-Navarro A.,
Farias M.H. |
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30 |
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XPS, AES and EELS study of the
bonding character in CNx
films G. Soto, E.C. Sámano, R. Machorro, F.F.
Castillón, M.H. Farías and L. Cota-Araiza. |
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Restrained relaxation of stress in
a MBE-grown thin film of CaF2 on (111) silicon A.
Zehe, A Ramírez, A. Tempel, E. Torres-Tapia |
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Modelado
de la región de deserción en la estructura Aluminio/SRO/ Silicio J. A.
Luna-López, J. Carrillo-López,
M. Aceves-Mijares
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Simulación de curvas C-V y C-t
para la caracterización eléctrica de
dispositivos MIS G. Francisco Pérez-Sánchez, Jesús Carrillo-López, Adán
Luna-Flores, Arturo Morales-Acevedo |
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Caracterización
eléctrica mediante C-V y C-t de dispositivos MIS con oxinitruros de silicio
depositados por LPCVD
G. Francisco Pérez-Sánchez, Jesús
Carrillo-LópezArturo Morales-Acevedo
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E. Pinčík, R. Brunner, V.Nádaždy, K. Gmucová,
M. Jergel, C. Falcony, H. Glesková,L. Ortega, J. Müllerová, R. Durný |
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The Editors thank to the Solid State
Section in the Physics Department of the Centro de
Investigación y de Estudios Avanzados del IPN for the support in the
publication of this issue, and the cooperation of Alejandra García Sotelo, Diana García Sotelo and Eng.
Erasmo Gomez in preparing this volume. |
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