SUPERFICIES
y VACIO Vol. 16(3), 2003
Table of Contents
Caracterización
de películas de AlxGa1-xAs
sin impurificar crecidas por MOCVD |
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1 |
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Broadening
and shift of excitonic resonances in quantum wells
with adiabatic interface roughness
N. Atenco-Analco, F. Pérez-Rodríguez ,N. M. Makarov |
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7 |
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Enhanced
non steady photo-electromotive force in p-i-n
structures Eliseo
Hernández Hernández ,Carlos M. García Lara, Rubén Ramos-García, John A Coy , Michael
R. Melloch, David D. Nolte |
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12 |
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Estudio
de las propiedades eléctricas de películas de óxido de silicio crecidas
térmicamente en ambiente de óxido nitroso |
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18 |
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Salazar-Ortíz
R. , Aguilera-Granja F. |
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23 |
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Optical
characterization of Cd(Sx,Te1-x)
thin films deposited by evaporation G. Gordillo, F. Rojas, C. Calderón |
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30 |
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Photoacoustic and micro-raman
analysis of TiO2 thin films obtained from IR laser beam J.L.
Jiménez-Pérez, A. Cruz-Orea, J.G. Mendoza –Álvarez.
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34 |
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Compositional
mixture in rf sputtered CdTe oxide films. Raman spectroscopy results F. Caballero-Briones and A. Zapata-Navarro, A. Martel, A. Iribarren, J. L. Peña, R. Castro-Rodrígue,
P. Bartolo-Pérez, F. Rábago-Bernal,
S.
Jiménez-Sandoval |
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38 |
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The Editors thank to the Solid State Section in the Physics
Department of the Centro de Investigación y de Estudios Avanzados del
IPN for the support in the publication of this issue, and the cooperation
of Alejandra García Sotelo, Diana García Sotelo and Eng. Erasmo Gomez
in preparing this volume. |
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