Simulación
analógica de los efectos anarmonicos en una red quasiperiodica bidimensional |
1 |
R.
Fuentes, O. Navarro y Ch. Wang, R. A. Barrio y R.G. Barrera, |
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Dispersión
angular fononica de un cristal triclinico |
6 |
E.
Gómez, H. W. Schrotter, R. Claus, |
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Epitaxia
de InP por CSVT |
12 |
J.
Mimila-Arroyo, R. Gonzáles, M. Galván y J. Díaz. |
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Películas
semiconductoras ternarias crecidas por evaporación mediante laser
pulsado de alta intensidad |
15 |
G.
Contreras Puente, A. Compaan, y A. Aydinli. |
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Fotoluminiscencia
en películas de Al2O3
Impurificado
con Ce |
20 |
O.
F. Miranda Romagnoli, M. García, A. Ortíz, J. S. Helman,
y C. Falcony. |
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Medición
de tiempos de atrapamiento en películas de
CdTe mediante
fotoconductividad AC y DC |
24 |
M.
García-Rocha, I. Hernández-Calderón. |
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Amplificaciones
de la transformada de "WAVELETS" (ONDOLETAS) al procesamiento de imágenes
de microscopio eléctronico y de patrones de retro-reflexión |
30 |
L.
Beltrán del Río, A. Gómez, D. Romeu y M. José
Yacamán |
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Celda
para la reproducción del punto triple del mercurio |
39 |
Jaime
Valencia Rodríguez, Juan M. Figueroa y Rafael Zepeda F. |
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Transferencia
de películas epitaxiales de silicio sobre aislante por adhesion
térmica de obleas |
44 |
G.
Romero P. |
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Fabricación
y estudio de dispositivos de memoria a base de películas de
oxido de silicio rico en silicio |
49 |
W.
Calleja, M. Aceves, C. Falcony, R. Osorio. |
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Caracterización
de silicio poroso por elipsometría |
53 |
G.
Romero P. |
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Medida
del Nitrógeno en aceros nitrurados usando reacciones nucleares |
58 |
J.
Richards, E. Andrade, E. P. Zirony y R. Trejo-Luna. |
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Características
de la interacción de Ni Metalico con Metano |
63 |
H.
M. A. Cuán , G. E. Poulain , S. A Ramírez. y R Gómez
. |
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Caracterización
por M. E. ferrisilicatos sintetizados con diferentes
fuentes de Si |
68 |
O.
Guzmán, P. del Angel, Ma. L. A. Guzmán y J. Lorenzo. |
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Elaboración
y caracterización de varistores cerámicos |
73 |
O.
Alvarez-Fregoso, J. A. Chavez C., Heriberto Aguilar y M. Díaz H. |
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Caracterización
estructural de modelos de catalizadores de
Rh/SiO2 |
78 |
Luis
Rendón, P. Santiago, P. Schabes-Retchkiman. |
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Amplificación
del campo eléctrico dentro de una acanaladura metálica: polarización
T. E. |
83 |
A.
Zuñiga Segundo y O. Mata Mendez. |
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Medidor
de ionización desnudo para alto vacío |
87 |
Apátiga
L. M., Alba F. y Flores D. |
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Emisión
óptica de superconductores Eu1Ba2Cu3O7-x |
90 |
R.
Rodríguez, R. Pérez y R. Escudero. |
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Caracterización
del Oxido La1-gSrgMnO3
con técnicas
de difracción |
94 |
Oel
Guzmán y Paz del Angel. |
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