Metrología y caracterización de materiales

16:00-16:30

SO4.I1

El Centro Nacional de Metrología y la Comparabilidad en las Mediciones

J. A. Salas, F. Martínez

16:30-16:45

SO4.1

Caracterizacion  de Descargas Toroidales de Cd con Sondas Dobles

Valencia R., Camps E., Muhl S. ,  de la Rosa J. y Muñoz A.

16:45-17:00

SO4.2

Analysis of X -Ray Backscattering in Polished and Rough Al Samples Irradiated with Ions

Barragán -Vidal A., Vázquez - Polo G. and Aguilar-Franco M..

17:00-17:15

SO4.3

Raman And Photoluminescence Study of GaP1-xNx  Layers Grown by mbe on GaP and Si Substrates

Santana-Aranda M. A., Mejía-García C., Meléndez-Lira M., Contreras-Puente G.,

17:15-17:30

SO4.4

Si Effects on InAs Self-Assembled Quantum Dots Ggrown by Molecular Beam Epitaxy

Saucedo-Zeni N., Zamora-Peredo L., Gorbatchev A. Yu, Lastras-Martínez A., Medel-Ruiz C.I., and Méndez-García V.H.

17:30-18:00

SO4.I2

Variación de las Intensidades en los Espectros de Difracción de Rayos-x en Compuestos Ternarios Semiconductores II-VI

Zapata-Torres M.